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[導(dao)讀]在日常弱(ruo)電施工中，常常會碰到需(xu)要(yao)熔(rong)接光(guang)纖(xian)的(de)時候，小編(bian)在這里列出了，我(wo)們熔(rong)接光(guang)纖(xian)過程(cheng)中常見的(de)幾個問題(ti)，希望對(dui)大(da)家有點幫(bang)助(zhu)。

1、熔接時接點有氣泡或者裂紋

出現這種(zhong)情況(kuang)(kuang)可能是光(guang)纖(xian)切割不良，比(bi)如(ru)端(duan)面傾斜、有毛刺(ci)或者端(duan)面不清潔(jie)，需(xu)要重新清理光(guang)纖(xian)之后(hou)再進行熔接(jie)操(cao)作(zuo)；還有一種(zhong)情況(kuang)(kuang)就是防電(dian)電(dian)極(ji)老化，需(xu)要更(geng)換電(dian)極(ji)棒。

2、熔接過厚或者接點變細

熔接(jie)過(guo)厚、接(jie)點變粗常(chang)常(chang)是由于光纖(xian)饋(kui)入(ru)(ru)太多、推動(dong)過(guo)快(kuai)造成的；熔接(jie)縮頭、接(jie)點變細一(yi)般是饋(kui)入(ru)(ru)量不(bu)夠、放電電弧(hu)太強造成的。這(zhe)幾(ji)種問題都(dou)需要調整電弧(hu)防電參(can)數(shu)和光纖(xian)饋(kui)入(ru)(ru)參(can)數(shu)。

3、熱縮后比熱縮前損耗大

這種情況(kuang)是(shi)由于光纖剝(bo)去保護套層后受到污(wu)染(ran)，熔(rong)接(jie)(jie)結束后熱(re)縮(suo)管緊縮(suo)時，殘(can)留的(de)污(wu)染(ran)物（如微小砂粒(li)）會壓(ya)迫(po)光纖，導致光纖變形，所以(yi)熔(rong)接(jie)(jie)損(sun)耗才會變大。這個(ge)時候需要重新清潔光纖、重新熔(rong)接(jie)(jie)。

4、盤纖造成短纖或者損耗增大

光(guang)纖(xian)熔接(jie)(jie)結束后，在接(jie)(jie)頭盒內(nei)固定(ding)的時候，應該輕拿(na)輕放，保證光(guang)纖(xian)在最小(xiao)彎曲半(ban)徑以上。接(jie)(jie)頭盒也要(yao)小(xiao)心放置(zhi)，避免(mian)受到擠壓和(he)碰撞(zhuang)。

5、熔接處機械強度差，容易被折斷

 導(dao)致(zhi)這種情況的原因比較多：①光纖(xian)本身的質量不(bu)好；②光纖(xian)切面不(bu)平(ping)整、導(dao)致(zhi)熔接效果差；③熔縮接頭方人員托盤(pan)卡(ka)槽時用力不(bu)當。

6、接續時出現負損耗

接(jie)(jie)續時(shi)出現負(fu)損(sun)耗(hao)，是在測試曲線上(shang)(shang)面(mian)出現向(xiang)上(shang)(shang)的(de)趨勢。經常出現在模(mo)場直徑(jing)大的(de)光(guang)(guang)纖接(jie)(jie)續模(mo)場直徑(jing)小的(de)時(shi)候(hou)，因為模(mo)場直徑(jing)小的(de)光(guang)(guang)纖引導反向(xiang)散射(she)光(guang)(guang)的(de)能力比(bi)模(mo)場直徑(jing)大的(de)光(guang)(guang)纖強(qiang)。這種情況下(xia)，我們應該使用雙向(xiang)測試平均法來算出熔接(jie)(jie)點(dian)的(de)真正(zheng)損(sun)耗(hao)！

文章編輯：CobiNet(寧波)  
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